技術文章
當前位置:首頁 > 技術文章
菲希爾X射線測厚儀XDL230信息
點擊次數(shù):31 更新時間:2025-12-30
菲希爾X射線測厚儀XDL230關鍵技術參數(shù)
1. X 射線源與探測器
X 射線管:帶鈹窗口的鎢靶 X 射線管,可選微聚焦型
高壓調節(jié):30kV、40kV、50kV 三檔可調,功率 50W
探測器:比例接收器 (Proportional Counter Tube),確保高計數(shù)率與快速測量
準直器:標準 φ0.3mm,可選 φ0.1mm、φ0.2mm、0.3×0.05mm 矩形
最小測量光斑:約 0.2mm (使用 φ0.1mm 準直器時)
濾光片:固定或 3 個自動切換選項
2. 測量能力
元素范圍:氯 (Cl, 17) 至鈾 (U, 92)
同時測量元素數(shù):最多 24 種 (需 WinFTM® BASIC 軟件)
鍍層測量標準:符合 ISO 3497 與 ASTM B 568
測量方法:FISCHER 基本參數(shù)法 (FP),支持無標樣測量
穩(wěn)定性:長期穩(wěn)定性優(yōu)異,減少校準頻率
FISCHER代理核心功能特點
無損檢測:非接觸、無損傷測量,保護樣品原貌
DCM 技術:測量距離補償方法,可在 0-80mm 范圍內自由選擇測量距離,適配復雜形狀樣品與腔體內部測量
精準定位:高分辨率彩色 CCD 攝像頭 (40-160 倍放大)+ 激光定位輔助,快速精確對準測量點
智能分析:內置基本參數(shù)法,無需標準片即可分析鍍層系統(tǒng)、固體與液體樣品
多模式測量:支持鍍層厚度測量、材料成分分析、電鍍槽液分析 (需配套附件)
靈活樣品適應:可測量平面、曲面、復雜形狀樣品,適用于各種尺寸工件

